「新しい時代の幕開けは常に新しい材料から」といわれるように，近年の技術革新は新しい材料から生まれている。特にその先端分野ではナノメータースケールを日常的に取り扱う時代になっている。この分野での研究を進めるため，電界放射型透過電子顕微鏡をはじめ，微細構造解析や微細構造作製に優れた機器が設置されている。毎年200名前後の学内外の研究者・学生が利用しており，関連する研究論文数は累計1944件に達し，理工学部，理工学研究科の研究に大いに役立っている。また，若手育成の活動も積極的に進め，文部科学省の「ひらめき☆ときめきサイエンス」を4年連続で開催し，若手研究者をエンカレッジする「若手フォーラム」は19回目の開催に至った。このように，材料研究に対する大いなる熱意の広がりが増しており，広範囲な材料研究がさらに発展するように，これをしっかりサポートすることが本センターの重要な役割である。
実施されてきた研究分野
- 高温超伝導材料
- 高温超伝導物性評価
- ディスプレイ薄膜
- 小型冷凍機
- 金属ナノ構造材料
- 分子動力学シミュレーション
- 膜形成シミュレーション
- 3次元超高密度光磁気記録
- 光磁気記録再生シミュレーション
- 静電気力顕微鏡
- MIS構造絶縁膜材料
- 絶縁膜評価
- シリコン発光材料
- ダイヤモンド状炭素膜
- レーザーアブレーションSiBx
- 希土類-還移金属合金の磁性
- ペロブスカイト型酸化物の磁性
- 低次元化合物の電気伝導と磁性
導入されている設備
- 電界放射型透過電子顕微鏡（FE-TEM）
集束性に優れた電界放射電子ビーム源を持つ加速電圧200keVの透過型電子顕微鏡。エネルギー分散型のＸ線分光装置を備え極微小部の組成分析が高感度で行える。（日立製作所製FE2000） - EPMA(Electron Probe Micro-Analyzer)
- Ｘ線光電子分光装置（ESCA）
- 集束イオンビーム加工装置（FIB）
- 振動試料型磁力計（VSM）
- SPM（AFM，MFM，STM）
- エリプソメータ
- 薄膜作製スパッタリング装置
- SEMその場観察可能引張り試験機（サーボパルサ）
詳細
http://www.amsc.cst.nihon-u.ac.jp
問い合わせ先
船橋校舎
TEL:047-469-5600